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  4. 晶圆芯片

深圳市思普泰克科技有限公司

地址:深圳市寶安區沙井芙蓉工業區岗仔工業園第10栋9楼

总部客服熱線:19926636925

晶圆芯片

晶圆檢測方案

時間:2018-08-27


晶圆檢測方案_深圳市(shi)思普泰克科技有限(xian)公司,思普泰克專注機器視覺檢測13年,
有非常多的(de)檢測案例,應用领(ling)域廣,免費測樣,製定檢測方案,快(kuai)速出機。
详情可咨詢:130 7781 5846

一:檢測内容及要求

檢測工件面积:

       1.44mm*1.43mm*1.65mm的(de)樣件的外觀、尺寸檢測               

檢測内容:  破损(sun),裂粒,氣孔(kong),镍(nie)層不(bu)良

    1:底部正光檢測外觀

    2:侧面正光檢測外觀

    3:侧面正光檢測外觀

    4:侧面正光檢測外觀

    5:侧面正光檢測外觀

    6:顶部正光檢測外觀

注明:以上檢測項目,均需要在(zai)影像下清(qing)晰可见才能檢測

檢測效率:每(mei)分鐘檢測数量250-350(根據樣件送料速度)

分工段進行:按照檢測内容(rong)細(xi)分檢測步骤


二: 設備組(zu)成及主要機構

整體構成:尺寸:  900*800*1850  mm

型號:SP_T300

1:思普泰克視覺檢測软件

2:工業電脑

3:顯示器   19

4:工業相機:6,底部正光1個,侧面正光4個,顶部正光1          

5:工業镜头: 6FA工業镜头

6:專業玻璃盘

7:電磁阀

8:减速機

9:振動柜

10:進(jin)料設備(振動盘、直振、控製器)

.1: 設備外觀3D立體圖

三:底部正光檢測方式

底部檢測良品分析圖:OK

三:底部正光檢測方式

底部檢測不良(liang)品(pin)分析圖(裂粒):NG

三:底部正光檢測方式

底部檢測不良(liang)品(pin)分析圖(镍層不良):NG

三:侧面正光檢測方式

侧面檢測良品分析圖:OK

三:侧面正光檢測方式

侧面檢測(ce)不良品分(fen)析圖(破损):NG

三:侧面正光檢測方式

顶(ding)部檢測不良品(pin)分析圖(氣孔):NG

三:侧面正光檢測方式

侧面檢測良品分析圖:OK

三:侧面正光檢測方式

侧面檢測(ce)不良品分(fen)析圖(破损):NG

三:侧面正光檢測方式

顶(ding)部檢測不良品(pin)分析圖(氣孔):NG

.系統安裝要求:

設備放置的檢測空間:  在流水線边單独安裝思普視覺檢測(ce)系統,需要保證有足够的空間以安(an)裝(zhuang)設備。

環境温度: 0-50摄氏度;

空氣湿度: 90% RH以下;

電子干扰: 為設備(bei)提供(gong)電子干扰较小的地方。

電源:     交流220V50Hz,  耗電<1KVA,氣壓0.35~0.7MPa

以上為晶圆檢測方案,檢測内容主要為破损(sun),裂粒,氣孔(kong),镍層不良及尺寸需要详細了解可拨(bo)打咨詢熱線:130 7781 5846

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